Analyse der Elektronenrückstreubeugung (EBSD).

Prinzip und Funktionsweise: Die EBSD-Technik ist eine mikrostrukturelle Analysemethode, die auf dem Rasterelektronenmikroskop (REM) basiert. Es bestimmt die Kristallorientierung und Korngrenzeneigenschaften durch die Erkennung der Kikuchi-Muster rückgestreuter Elektronen. Bei der Analyse des LR AH32-Stahls vor und nach der Schwingungsentlastungsbehandlung sollten die Proben zunächst ordnungsgemäß vorbereitet werden (z. B. mechanisches Polieren und elektrolytisches Polieren), um ihre Oberflächen flach zu machen. Anschließend können die kristallographischen Informationen über die Probenoberflächen mit dem EBSD-System ermittelt werden.

Möglichkeiten zur Quantifizierung des Einflusses auf die Härte:

Analyse der Korngrenzeneigenschaften: Es kann die Arten von Korngrenzen (z. B. Korngrenzen mit großem Winkel und Korngrenzen mit kleinem Winkel) und deren Verteilung genau messen. Im Allgemeinen können Korngrenzen die Bewegung von Versetzungen wirksam behindern. Wenn nach der Vibrationsspannungsentlastungsbehandlung die Dichte der Korngrenzen zunimmt, insbesondere der Anteil der Korngrenzen mit großem Winkel, steigt, stoßen Versetzungen beim Durchgang durch die Korngrenzen auf mehr Hindernisse, und die Fähigkeit des Materials, einer Verformung zu widerstehen, wird somit verbessert die Härte kann zunehmen. Durch EBSD können Parameter wie Korngrenzenlänge und Korngrenzenwinkelverteilung gezählt werden, um den Einfluss von Korngrenzenänderungen auf die Härte zu quantifizieren.

Kristallorientierungsanalyse: Es ist in der Lage, die Fehlorientierung von Körnern zu bestimmen. Während des Vibrationsspannungsabbauprozesses kann sich die Kristallorientierung ändern. Wenn die Kornorientierung zufälliger wird oder eine Orientierungsverteilung bildet, die eine Verformung verhindert, wirkt sich dies auch auf die Härte des Materials aus. Wenn beispielsweise die Kornorientierung die Bewegung von Versetzungen in mehrere Richtungen blockiert, nimmt die Härte zu. Der Einfluss von Kristallorientierungsänderungen auf die Härte kann durch die Berechnung von Parametern wie der Fehlorientierungsverteilungsfunktion quantifiziert werden.

Analyse der Rasterkraftmikroskopie (AFM).

Prinzip und Funktionsweise: Die Rasterkraftmikroskopie erhält Informationen zur Oberflächentopographie durch die Erfassung der Wechselwirkungskräfte zwischen der Spitze und den Atomen auf der Probenoberfläche. Beim LR AH32-Stahl werden die Proben vor und nach der Vibrationsspannungsentlastungsbehandlung auf dem Probentisch des AFM fixiert und die Spitze tastet über die Probenoberfläche ab. Es kann Informationen über Oberflächenrauheit und Höhenunterschiede im Nanometerbereich liefern.

 

 

 

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